FT-3120 系列半自動四探針測試儀
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FT-3120 系列半自動四探針測試儀的詳細(xì)資料 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
FT-3120 系列半自動四探針測試儀 一.功能描述: 四點探針標(biāo)準(zhǔn)測試方法,采用步進(jìn)系統(tǒng)自動控制探頭與樣品接觸,減少人為因素對測試結(jié)果的影響;參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn);測量方塊電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實現(xiàn)自動點測模式或手動點測模式,同一位置的重復(fù)測試或多點的面電阻測量,報表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析;提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件.
FT-3120 系列半自動四探針測試儀 晶圓、非晶硅/微晶硅和導(dǎo)電膜電阻率測量;選擇性發(fā)射極擴(kuò)散片;表面鈍化片;交叉指樣PN結(jié)擴(kuò)散片;新型電極設(shè)計,如電鍍銅電阻測量等;半導(dǎo)體材料分析,鐵電材料,納米材料,太陽能電池,LCD,OLED,觸摸屏等.
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